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● 내부저항과 개방전압을 동시에 측정
● xEV용 대형셀, 300 V까지의 중형팩 측정에 대응한 레인지 구성
● 내부저항(AC-IR)측정 레인지: 3 mΩ/30 mΩ/300 mΩ/3 Ω/30 Ω/300 Ω/3 kΩ
● 개방전압 측정 레인지 : 6 V/60 V/300 V
● 인터페이스에 LAN 탑재
● 측정리드는 표준 부속되어 있지 않습니다. 옵션의 리드를 구입해 주십시오. EXT I/O용 수컷 커넥터 (시스템측)을 판매 부품으로 준비되어 있습니다.
저항 측정 레인지 |
3 mΩ(최대표시: 3.1000 mΩ, 분해능: 0.1 μΩ, 측정전류: 100 mA) 30 mΩ(최대표시: 31.000 mΩ, 분해능:
1 μΩ, 측정전류: 100 mA) 300 mΩ(최대표시: 310.00 mΩ, 분해능: 10 μΩ, 측정전류: 10 mA) 3 Ω(최대표시:
3.1000 Ω, 분해능: 100 μΩ, 측정전류: 1 mA) 30 Ω(최대표시: 31.000 Ω, 분해능: 1
mΩ, 측정전류: 100 μA) 300 Ω(최대표시:
310.00 Ω, 분해능: 10 mΩ, 측정전류: 10 μA) 3 kΩ(최대표시: 3.1000 kΩ, 분해능: 100 mΩ, 측정전류: 10 μA) 측정 대표 정확도:
±0.5% rdg ±10 dgt(3 mΩ레인지), ±0.5%
rdg ±5 dgt(30 mΩ레인지 이상)
측정전류 주파수: 1 kHz ±0.2 Hz 측정방식: 교류4단자법 |
전압 측정 레인지 |
6 V(최대표시: 6.00000 V, 분해능: 10 μV) 60 V(최대표시: 60.0000 V, 분해능: 100 μV) 300 V(최대표시:
300.000 V, 분해능: 1 mV) 측정 대표 정확도: ±0.01% rdg ±3
dgt |
측정 응답시간 |
10 ms |
샘플링 시간 |
Ω 또는 V: 4 ms (EX.FAST), 12 ms (FAST), 35 ms (MEDIUM),
150 ms (SLOW) ΩV: 8 ms (EX.FAST), 24 ms (FAST), 70 ms
(MEDIUM), 253 ms (SLOW) |
기능 |
콘택트 체크 기능, 영점 조정 기능, 펄스 측정
기능, 콤퍼레이터 기능(Hi/ IN/ Lo), 통계 연산
기능(최대 30,000 데이터), 딜레이 기능, 애버리지 기능,
설정 저장 기능(패널 세이브), 메모리 기능, LabVIEW® 드라이버 지원 |
인터페이스 |
LAN (TCP/IP, 10BASE-T/100BASE-TX) RS-232C (최대
38.4 kbps, 프린터 I/F 겸용) EXT
I/O (37-pin Handler interface) 아날로그 출력 (DC 0 V〜3.1 V) |
전원 |
AC 100 V 〜 AC 240 V, 50 Hz/60
Hz, 35 VA max. |
치수 및 질량 |
215W × 80H × 295D
mm, 2.4 kg |
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